4-Probe Methode는 아래와 같은 방식으로 저항을 정밀하게 측정하는거임.

빨간색이 전류임




일정한 전류를 흘리는 Current Path를 만들어주고, 재고자 하는 저항 양단에 Voltage를 측정함.

간단히 이야기하면 I를 이상적으로 흘린 상태에서 특정 구간의 전압차를 재고, 그 구간에서 총 저항을 재는거임.

복잡하게 하면 비저항 계산해야하는데 그냥 V=IR 정밀하게 측정한거임.




*그런데 Sample에서 만약 Deposition이 균일하게 되지 않아서 절연체쪽에 Voltage Probe가 꽂히고,

Sample에서 일부 저항이 낮은 곳이 있다면 Current Path가 아래처럼 바뀜





Current가 절연체쪽에 아예 안흐르니 당연히 Voltage Gap은 0이 되고, V=IR에서 V=0이니 R은 0이 됨.


물론 절연체로 인한 측정오차라면 Current 늘려가면서 저항이 떨어지는지 살펴보면 되긴 할 것 같은데..

(이건 실제로 내가 다른 Test할때 사용하는 방법이긴 한데, 이건 내 뇌피셜이라 믿진마셈)



치박이형은 그 절연체가 박막 위에 순간적으로 생성된 Oxide층이던 혹은 LK-99의 절연물질 부분이던,

Voltmeter Prober가 그쪽에 있으면 저항 Data값이 0이 나올수 있단말임.



그런데 이런 오류가 충분히 있을 순 있는데, 나는 좀 회의적인게 이거 반도체 학부따리에서 다 배우는 내용이라 과연 그 전문가들이 저런 기초적인 실수를 저질렀을까?

전류 늘려서 측정오류인지 확인해 볼 수도 있을텐데(이건 내 뇌피셜) 왜 안해봤지?


싶긴 함.


할튼 결국 차박이 아저씨도 동의한게 샘플 까봐야 된다는거임.